-
1 wafer inspection microscope
мікроскоп для оптичного контролю структур на напівпровідниковій пластиніEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > wafer inspection microscope
-
2 microscope
мікроскоп- atomic force microscope AFM- atomic force microscope
- electrostatic force microscope EFM
- electrostatic force microscope
- field ion microscope
- infrared microscope
- inspection microscope
- laser acoustic microscope
- laser scanning microscope
- light-sectioning microscope
- metallographical microscope
- optoacoustic microscope
- photo-thermal-radiation microscope
- scanning-electron microscope
- scanning tunneling microscope
- split-field microscope
- transmission electron microscope
- tunnel microscope
- wafer inspection microscopeEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > microscope
См. также в других словарях:
wafer inspection microscope — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
microscope pour inspection des tranches — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Microscope électronique à balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Waferkontrollmikroskop — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
plokštelių apžiūros mikroskopas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
микроскоп для визуального контроля пластин — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
MIL-STD-883 — The MIL STD 883 standard establishes uniform methods, controls, and procedures for testing microelectronic devices suitable for use within Military and Aerospace electronic systems including basic environmental tests to determine resistance to… … Wikipedia
Counterfeit electronic components — While counterfeiting has existed for centuries, the appearance of counterfeit electronic components is a relatively new phenomenon, unique to the 21st century[citation needed] and the digital age. Mankind has become increasingly dependent on… … Wikipedia
Microscopie electronique a balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie Électronique À Balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie électronique à balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM, Microscope (homonymie) et Microscopie. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F La microscopie éle … Wikipédia en Français
